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Chaudière intégrée
Circuit BIT du circuit de jaugeage carburant
Circuit MSI
Circuit d'essai intégré
Circuit d'optique intégrée
Circuit de contrôle incorporé
Circuit intégré hybride
Circuit intégré optique
Circuit intégré photonique
Circuit optique intégré
Circuit semi-intégré
Circuit à intégration à moyenne échelle
Essai intégré
JESSI
Microstructure hybride
Puce optique
Puce photonique
Réacteur intégré
Réacteur piscine
Réacteur « pool »
Réacteur à circuit primaire intégré
Test intégré

Traduction de «Circuit d'essai intégré » (Français → Anglais) :

TERMINOLOGIE
voir aussi les traductions en contexte ci-dessous
circuit d'essai intégré [ circuit de contrôle incorporé ]

built-in test circuit


circuit du dispositif d'essai intégré du circuit de jaugeage carburant [ circuit BIT du circuit de jaugeage carburant ]

fuel gauging system built-in-test circuit [ fuel gauging system BIT circuit ]


circuit intégré hybride | circuit semi-intégré | microstructure hybride

hybrid integrated circuit | hybrid microcircuit | HIC [Abbr.]


circuit intégré photonique | circuit intégré optique | circuit optique intégré | puce photonique | puce optique

photonic integrated circuit | PIC | optical integrated circuit | OIC | integrated optical circuit | IOC | photonic chip | optical chip


circuit optique intégré [ circuit d'optique intégrée | circuit intégré optique ]

optical integrated circuit [ OPIC | integrated optical circuit ]


circuit à intégration à moyenne échelle | circuit MSI

medium-scale-integration circuit | MSI circuit






réacteur piscine | réacteur intégré | chaudière intégrée | réacteur « pool » | réacteur à circuit primaire intégré

pool reactor | swimming pool reactor


Développement d'une technologie de microprocesseurs pour les circuits hautement intégrés au silicium | JESSI

Joint European Submicron Silicon Initiative | JESSI
TRADUCTIONS EN CONTEXTE
Essais des cartes à circuits intégrés conformément aux normes de la série ISO 10373

Smart card testing according to ISO 10373 series


b. pour le test de circuits intégrés capables d'exécuter des essais de base (table de vérité) à une 'cadence de signal' supérieure à 333 MHz;

b. For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a 'pattern rate' of more than 333 MHz;


b. pour le test de circuits intégrés capables d'exécuter des essais de base (table de vérité) à une "cadence de signal" supérieure à 333 MHz;

b. For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a "pattern rate" of more than 333 MHz;


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