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Chauffage par faisceau d'électrons
Chauffage par faisceau électronique
Chauffage à faisceau électronique
Enregistreur d'image à faisceau électronique
Enregistreur d'images à faisceau électronique
LFE
Lithographie par faisceau d'électrons
Lithographie par faisceau électronique
Lithographie à faisceau d'électrons
Lithographie à faisceau électronique
Lithographie électronique
Micro-analyseur à faisceau électronique
Microanalyseur à faisceau électronique
Tube de puissance à faisceau électronique
Tube à faisceau électronique

Traduction de «Enregistreur d'images à faisceau électronique » (Français → Anglais) :

TERMINOLOGIE
voir aussi les traductions en contexte ci-dessous
enregistreur d'images à faisceau électronique

electron beam image recorder


enregistreur d'image à faisceau électronique

electron beam image recorder | EBIR [Abbr.]


lithographie par faisceau d'électrons | LFE | lithographie par faisceau électronique | LFE | lithographie à faisceau d'électrons | LFE | lithographie à faisceau électronique | LFE | lithographie électronique

electron beam lithography | EBL | e-beam lithography


chauffage par faisceau électronique [ chauffage par faisceau d'électrons | chauffage à faisceau électronique ]

electron beam heating [ E-beam heating ]


microanalyseur à faisceau électronique [ micro-analyseur à faisceau électronique ]

electron-probe-micro-analyser




tube de puissance à faisceau électronique

beam power-tube
TRADUCTIONS EN CONTEXTE
9. Microscopes électroniques de faible énergie : dispositifs d’optique électronique à transmission ou à balayage, ayant une énergie de fonctionnement de 500 kilo-électronvolts (keV) ou moins, dans lesquels on utilise un faisceau d’électrons, focalisé par des lentilles électroniques, pour produire sur un écran fluorescent, une plaque photographique ou un autre système de visualisation, une image agrandie d’un objet de petite taille.

9. Low Energy Electron Microscopes being electron-optical devices with an operating energy of 500 kilo-electron volts (keV) or less in which a beam of electrons, focused by means of electron lenses, is used to produce an enlarged image of a minute object on a fluorescent screen, photographic plate or any other detector-display system, including both the transmission and scanning types of devices.


a. vitesse d'obturation électronique (capacité de suppression de faisceau) de moins de 1 µs par image complète; et

a. An electronic shutter speed (gating capability) of less than 1 µs per full frame; and


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