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Aircraft firing circuit test set
Automated optical inspection
Circuit access point
Circuit test
Circuit test access point
Closed circuit test
Conduct circuit tests
Conduct signal circuit testing
In-circuit test
In-circuit test conducting
In-circuit test performing
Open-circuit test
PCBs testing methods
Perform in-circuit test
Perform tests on circuitry
Performing in-circuit test
Printed circuit boards testing methods
Sustained short-circuit test
Test circuitry

Traduction de «In-circuit test » (Anglais → Français) :

TERMINOLOGIE
voir aussi les traductions en contexte ci-dessous
in-circuit test conducting | in-circuit test performing | perform in-circuit test | performing in-circuit test

réaliser un test en circuit


in-circuit test | PCBs testing methods | automated optical inspection | printed circuit boards testing methods

méthodes d’essai de circuits imprimés


conduct circuit tests | conduct signal circuit testing | perform tests on circuitry | test circuitry

tester les circuits


sustained short-circuit test

essai en court-circuit permanent


circuit access point | circuit test access point

point d'accès au circuit | point d'accès pour les mesures de circuit


circuit test

test de circuit [ vérification du circuit ]






sustained short-circuit test

essai de court-circuit permanent


aircraft firing circuit test set

appareil de test du circuit de mise à feu
TRADUCTIONS EN CONTEXTE
This solution is used for closed circuit migration tests on an electrodialysis stack under tension (1 volt/cell), on the basis of 50 l/m2 of anionic and cationic membranes, until 50 % demineralisation of the solution.

Cette solution est utilisée pour les essais de migration en circuit fermé sur un empilement d’électrodialyse sous tension (1 volt/cellule), à raison de 50 litres/m de membranes anioniques et cationiques, jusqu’à déminéraliser la solution de 50 %.


(a) the detonator lead wires remain shunted at all times except during circuit testing;

a) les lignes de tir des détonateurs sont maintenues en dérivation, sauf lors de la mise à l’essai du circuit;


(a) detonator lead wires remain shunted at all times except when the charges are ready to be fired and during circuit testing after loading;

a) les lignes de tir des détonateurs sont maintenues en dérivation, sauf lorsque les charges sont prêtes à être mises à feu et pendant les essais des circuits après le chargement;


The CEATF is a railway circuit where trains can run at very high speeds (up to 520 km/h) with additional installations for testing, approval and tuning of mobile rail equipment, infrastructure and superstructure elements.

Le CEATF est un circuit ferroviaire sur lequel des trains peuvent rouler à des vitesses très élevées (jusqu'à 520 km/h), doté d'installations supplémentaires d'essai, d'homologation et de réglage d'équipements ferroviaires mobiles, d'infrastructures et d'éléments de superstructures.


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(d) the circuit of every electric detonator is tested with a blaster’s galvanometer immediately after the charge is loaded into a shot hole and, if the test indicates that the circuit is open, no attempt is made to remove the charge and a fresh primed cartridge is inserted into the shot hole.

d) le circuit de chaque détonateur électrique est vérifié au moyen du galvanomètre du boutefeu immédiatement après le chargement du trou de tir et, si la vérification révèle que le circuit est ouvert, aucune tentative n’est faite pour retirer la charge, et une autre cartouche amorcée est insérée dans le trou de tir.


This solution is used for closed circuit migration tests on an electrodialysis stack under tension (1 volt/cell), on the basis of 50 l/m of anionic and cationic membranes, until 50 % demineralisation of the solution.

Cette solution est utilisée pour les essais de migration en circuit fermé sur un empilement d'électrodialyse sous tension (1 volt/cellule), à raison de 50 litres /m de membranes anioniques et cationiques, jusqu'à déminéraliser la solution de 50 %.


The Ninth Circuit Court of Appeals was quite aggressive in finding no basis in fact for the issue of the temporary injunction, and certainly it is the view of government officials here in Canada that the Ninth Circuit Court of Appeals laid down significant tests for application in any further proceedings.

La Ninth Circuit Court of Appeals a statué assez énergiquement qu'il n'y avait pas de fondement en fait pour une telle injonction, et les autorités gouvernementales, ici, au Canada, sont certes d'avis que la Ninth Circuit Court of Appeals a prescrit des critères sérieux à appliquer dans toute instance future.


The connection interface between the vehicle and the diagnostic tester must be standardised and must meet all the requirements of ISO DIS 15031-3 "Road vehicles - Communication between vehicle and external test equipment for emissions-related diagnostics - Part 3: Diagnostic connector and related electrical circuits: specification and use", dated 1 November 2001.

L'interface de connexion entre le véhicule et le banc de diagnostic doit être standardisée et respecter toutes les spécifications de la norme ISO DIS 15031-3 "Véhicules routiers - Communication entre un véhicule et un équipement externe pour le diagnostic relatif aux émissions - Partie 3: Connecteur de diagnostic et circuits électriques associés; spécifications et utilisation", du 1er novembre 2001.


This solution is used for closed circuit migration tests on an electrodialysis stack under tension (1 volt/cell), on the basis of 50 l/m2 of anionic and cationic membranes, until 50 % demineralisation of the solution.

Cette solution est utilisée pour les essais de migration en circuit fermé sur un empilement d'électrodialyse sous tension (1 volt/cellule), à raison de 50 litres /m2 de membranes anioniques et cationiques, jusqu'à déminéraliser la solution de 50 %.


Three major stages (assembly, testing and diffusion) have been identified in the manufacture of integrated circuits and it has been determined that the diffusion stage is the most sophisticated and difficult from the technical point of view and requires the largest research input.

Trois stades importants de fabrication de circuits intégrés ont été recensés (l'assemblage, le contrôle technique et la diffusion) et il a été établi que le stade de diffusion est techniquement le plus complexe, le plus difficile et celui qui implique les plus importants investissements de recherche.


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