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Circuiterie électronique
Circuits électroniques
Ensemble électronique
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Ensemble électronique de microscopie
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Examen par microscopie électronique
MEB
Microscopie 4D
Microscopie à balayage électronique
Microscopie électronique 4D
Microscopie électronique quadridimensionnelle
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Microscopie électronique à balayage
Technologue des ensembles électroniques

Traduction de «Ensemble électronique de microscopie » (Français → Anglais) :

TERMINOLOGIE
voir aussi les traductions en contexte ci-dessous
ensemble électronique de microscopie

electronics for microscopy


microscopie électronique quadridimensionnelle | microscopie électronique 4D | microscopie électronique ultrarapide 4D | microscopie 4D

four-dimensional electron microscopy | four-dimensional ultrafast electron microscopy | 4D electron microscopy | 4D ultrafast electron microscopy | 4D microscopy


technologue des ensembles électroniques

computing systems technologist






circuits électroniques [ circuiterie électronique | ensemble électronique ]

electronic circuitry


ensemble électronique limiteur de couple et de température de tuyère

engine limiter unit | ELU


ensemble électronique de commandes de vol

flight control electronic package | FCEP


microscopie à balayage électronique | microscopie électronique à balayage | MEB [Abbr.]

Scanning Electron Microscopy | SEM [Abbr.]


examen par microscopie électronique

Electron microscopy
TRADUCTIONS EN CONTEXTE
pour les ensembles électroniques ou les ensembles comportant un logiciel:

For electronic systems or systems containing software:


Générateurs de radiographie éclair ou accélérateurs pulsés d’électrons ayant une énergie maximale égale ou supérieure à 500 keV comme suit, à l’exception des accélérateurs qui sont des composants de dispositifs destinés à d’autres fins que le rayonnement de faisceaux d’électrons ou de rayons X (pour la microscopie électronique par exemple) et ceux conçus à des fins médicales :

Flash x-ray generators or pulsed electron accelerators with peak energy of 500 keV or greater, as follows, except accelerators that are component parts of devices designed for purposes other than electron beam or x-ray radiation (electron microscopy, for example) and those designed for medical purposes:


2. Ensembles électroniques visés au paragraphe 4A003.c., spécialement conçus ou modifiés afin de renforcer les performances par agrégation de processeurs de sorte que la «performance de crête corrigée» (PCC) de l'agrégation ne dépasse pas 0,8 Teraflops pondéré (TP);

2. Electronic assemblies specified in 4A003c, specially designed or modified to enhance performance by aggregation of processors so that an ‘Adjusted Peak Performance’ (‘APP’) of the aggregation greater than 0.8 Weighted TeraFLOPS (WT) is not exceeded.


2. Ensembles électroniques visés au paragraphe 4A003.c., spécialement conçus ou modifiés afin de renforcer les performances par agrégation de processeurs de sorte que la «performance de crête corrigée» (PCC) de l'agrégation ne dépasse pas 0,8 Teraflops pondéré (TP);

2. Electronic assemblies specified in 4A003c, specially designed or modified to enhance performance by aggregation of processors so that an ‘Adjusted Peak Performance’ (‘APP’) of the aggregation greater than 0.8 Weighted TeraFLOPS (WT) is not exceeded.


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25. prie instamment l'Union européenne de remplacer la microscopie optique en contraste de phase (MOCP) par la microscopie électronique en transmission (MET), plus précise et permettant une meilleure détection des particules fines;

25. Urges the EU to replace the phase-contrast optical microscopy (PCOM) method with the Accuracy of Transmission Electron Microscopy (ATEM), which is more accurate and provides for better detection of thin particles;


pour les ensembles électroniques ou les ensembles comportant un logiciel : B+D ou B+F ou G ou H1.

For electronic systems or systems containing software: B+D or B+F or G or H1.


Si la méthode s'avère concluante, elle fournira une nouvelle technique d'analyse en microscopie électronique à transmission, permettant une mesure précise des propriétés magnétiques sous la surface et dans les couches multiples d'un matériau à des résolutions nanométriques.

If successful it will provide a new analytical technique for transmission electron microscopy, allowing accurate measurement of magnetic properties below the surface and in multilayer materials at nanometer resolutions.


L'objectif du projet est de transformer le centre national de microscopie électronique de l'hôpital de Kasr El Eini, attaché à l'Université du Caire, en un centre régional, et de poursuivre le développement des capacités actuelles du centre en matière de recherche, de diagnostic et de formation par le truchement de contacts directs avec l'Institut Pasteur de Lyon.

The aim of the project is to transform the national electronic microscopy centre, which is located at the Kasr El Eini hospital and attached to Cairo University, into a regional centre and to further develop the centre's research, diagnosis and training capacity through direct contacts with the Institut Pasteur in Lyons (France).


Le projet sera mis en oeuvre sur la base d'un programme de travail convenu entre le centre national de microscopie électronique de l'Université du Caire (NEMROCK) et l'Institut Pasteur de Lyon.

The project will be implemented on the basis of a programme agreed between the national electronic microscopy centre of the University of Cairo (NEMROCK) and the Institut Pasteur in Lyons.


La poursuite du développement de la microscopie électronique en Egypte est un facteur clé de l'accroissement des capacités de recherche actuelles en vue d'améliorer le diagnostic et le traitement du cancer de la vessie et du sein, et d'autres maladies représentant un grave problème sanitaire en Egypte.

The further development of electronic microscopy in Egypt will play a key role in increasing current research capacity on the improved diagnosis and treatment of cancer of the bladder, breast cancer and other illnesses which are widespread in Egypt.


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