Si la méthode s'avère concluante, elle fournira une nouvelle technique d'analyse en microscopie électronique à transmission, permettant une mesure précise des propriétés magnétiques sous la surface et dans les couches multiples d'un matériau à des résolutions nanométriques.
If successful it will provide a new analytical technique for transmission electron microscopy, allowing accurate measurement of magnetic properties below the surface and in multilayer materials at nanometer resolutions.
